一种用于校准的5G阵列天线近场面测量方法

专利号：CN201810733933.X

公布日：2018-10-26

申请人：成都德杉科技有限公司

一种用于阵列天线校准的天线面测量方法

专利号：CN201811255889.2

公布日：2021-04-23

申请人：成都德杉科技有限公司

用于测量SRAM阵列电容的测试电路及测量SRAM阵列电容的方法

专利号：CN201410537903.3

公布日：2019-01-22

申请人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

一种大规模天线阵列的互易性和同步性的一致性测量装置和方法

专利号：CN201510373619.1

公布日：2017-11-24

申请人：上海交通大学

一种温度测量阵列的定位检测系统

专利号：CN202222240698.7

公布日：2023-03-07

申请人：上海瑞浦青创新能源有限公司

一种非同时测量的噪声源识别阵列架体

专利号：CN202111520019.5

公布日：2022-02-18

申请人：中国船舶重工集团公司第七0三研究所

一种非同时测量的噪声源识别阵列架体

专利号：CN202123119620.1

公布日：2022-08-19

申请人：中国船舶重工集团公司第七0三研究所

用于确定柔性阵列设备的阵列相对位置的方法

专利号：CN202180055312.0

公布日：2023-05-12

申请人：韩国科学技术研究院

眼镜片表面微透镜阵列的屈光测量装置及方法

专利号：CN202210536477.6

公布日：2022-08-23

申请人：深圳盛达同泽科技有限公司

天线测量方法、装置、球面测量设备及可读存储介质

专利号：CN202210166948.9

公布日：2022-06-03

申请人：北京理工大学

曲率半径测量装置及其测量方法

专利号：CN201911338140.9

公布日：2020-04-24

申请人：深圳市速普仪器有限公司

眼镜片表面微透镜阵列的屈光测量装置

专利号：CN202221185790.1

公布日：2023-03-10

申请人：深圳盛达同泽科技有限公司

一种高鲁棒性化学传感器阵列软测量方法

专利号：CN202010997648.6

公布日：2020-12-18

申请人：哈尔滨工业大学

用于协调横向和机器方向控制的模型预测控制器

专利号：CN200480019266.5

公布日：2006-08-09

申请人：霍尼韦尔国际公司

生物信息测量设备及生物信息测量方法

专利号：CN202210602375.X

公布日：2022-08-05

申请人：安徽华米信息科技有限公司